OEDU-MIEK 迈克尔逊干涉仪教学套件

• Oeabt教学演示系列产品旨在通过各种经典实验来促进物理学、光学、光子学以及各种新兴研究领域的发展。每种教学套件包含所有必需的组件和一本说明手册，手册中有详细的装置说明和教学操作指导。 • 测量光程差：精确测量微小的长度变化和位移，应用于精密机械和纳米技术。 • 折射率测量：通过测量干涉条纹的变化，可以确定不同介质的折射率。